VAIS-AMT
2007年開發(fā)的VAIS-AMT系列是韓國首個商業(yè)化的桌面主動減振系統(tǒng)。滿足 IEST 的 VC-G 類環(huán)境的減振系統(tǒng)，以適應(yīng)原子力顯微鏡（AFM），一種特別容易受到低頻振動干擾的設(shè)備。
VAIS-AMT 消除了無源隔離系統(tǒng)的共振現(xiàn)象，安裝和操作程序更簡單。自商業(yè)化以來，VAIS-AMT 卓越的性能和具有競爭力的價格得到了全球 AFM 制造商的認(rèn)可，并應(yīng)用于各種納米測量儀器。
【特性】
1. 易于安裝和運(yùn)輸
由金屬螺旋彈簧支撐，VAIS-AMT 不需要壓縮空氣供應(yīng)，可以方便地運(yùn)輸和安裝在任何有電的地方。
2. 前反饋控制
利用反饋和前反饋控制，VAIS-AMT 具有出色的防止低頻振動干擾的能力，這是被動防振系統(tǒng)的常見問題。
3. LED 狀態(tài)指示燈
前面板上的三個 LED 燈（紅、綠、藍(lán)）方便地顯示振動環(huán)境變化和可維護(hù)性的狀態(tài)。
4. 簡易自我診斷
數(shù)字控制的 VAIS-AMT 設(shè)計(jì)用于方便地自我診斷與操作相關(guān)的故障，例如重心變化。
5. 遠(yuǎn)程支持
提供遠(yuǎn)程實(shí)時支持，方便性能診斷和技術(shù)支持。
【性能】
1. 減振性能（傳遞率）
2. 氣動減振器與VAIS-AMT性能對比（3D光學(xué)表面輪廓儀的干涉條紋圖像）
氣動減振
VAIS-AMT
【應(yīng)用領(lǐng)域】
一、應(yīng)用說明
1. VAIS-AMT 系列是為適應(yīng) AFM/SPM 而開發(fā)的，這需要很長時間才能獲得最佳圖像。 該系列創(chuàng)造穩(wěn)定振動環(huán)境的能力已通過全球多家 AFM 制造商的徹底驗(yàn)證，并在各種場所得到應(yīng)用。
2. 憑借在振動敏感原子力顯微鏡方面的經(jīng)驗(yàn)，VAIS-AMT 正在將其范圍擴(kuò)展到各種需要高精度測量的顯微鏡，包括高端光學(xué)顯微鏡、3D 表面光學(xué)輪廓儀、mini-SEM、納米技術(shù)。
3. 通過消除氣動被動隔離系統(tǒng)的振動放大（共振）問題并提供有競爭力的價格，VAIS-AMT 系列將努力為所有需要納米級測量的分析設(shè)備提供理想的振動環(huán)境。
二、應(yīng)用儀器
原子力顯微鏡 (AFM)
掃描探針顯微鏡 (SPM)
3D表面測量系統(tǒng)
臺式掃描電子顯微鏡 (Mini-SEM)
高精度光學(xué)顯微鏡
納米壓痕系統(tǒng)
納米測量/分析儀器
